蔡司Xradia Context是一大视场，非破坏性3D X射线微型计算机断层扫描系统。借助强大的平台和灵活的软件控制源／探测器定位，您可以在
完整的3D环境中对大型，重型（25kg）和高样本进行成像，以及具有高分辨率和细节的小样本。
获取完整的电子元件，大型原材料样品或生物样品的3D数据。
执行非破坏性故障分析，以识别内部缺陷，而无需切割样品或工件
表征和量化材料中的性能定义异质性，如孔隙率，裂缝，夹杂物，缺陷或多相。
连接到蔡司相关显微镜环境并执行非破坏性3D成像，以识别感兴趣的区域，用于随后的高分辨率2D或3D电子显微镜成像。
高像素密度探测器（六百万像素）使您能够在完整的3D环境中解析精细细节，即使在相对较大的成像体积内也是如此。或者使用小样本＊大化几何放
大率，以识别和表征具有高对比度和清晰度的微米级结构。快速的样品安装和校准，简化的采集工作流程，快速曝光时间和数据重建以及可选的自动
加载器系统使Xradia Context成为高吞吐量的主力，可满足各种3D成像和表征需求。
Xradia Context建立在经过时间考验和备受推崇的Xradia技术之上，在现场反复证明可提供一致可靠的系统稳定性，图像质量和可用性。用户友
好的Scout-and-Scan控制系统为您提供高效的工作流程环境。使用Autoloader扩展您的系统，自动处理和顺序扫描多达14个样品。或者进行4D研
随着您的成像需求的发展，您的仪器也应如此。Xradia Context现在加入了蔡司X射线成像产品组合，受益于蔡司不断致力于扩展其现场系统的
功能和功能。并且提供有保障的投资保护，您的Xradia Context microCT是可以随时转换为蔡司Xradia 5XX Versa 3D X射线显微镜（XRM）的
microCT，该仪器为实验室X射线成像树立了新标准其高工作距离（RaaD）技术的高分辨率和先进的采集和对比方法。
