联系我们 /contact us
联系我们

电话:158 5067 2658
传真:158 5067 2658
邮箱:zhufeijun@toptek3d.com
地址:常州市新北区寒山路7号

您现在的位置:首页 >> 产品中心 >> 光学显微镜
光学显微镜

蔡司高速扫描电子显微镜M

蔡司开启电子显微镜速度的革新时代
借助 MultiSEM显微镜,您可以充分运用91条并行电子束的采集速度。现如今,您能够以纳米分辨率对厘米级样品成像。这款出色的扫描电子显
微镜(SEM)专为7x24小时的连续,可靠运行而设计。只需简单设置高性能数据采集流程,MultiSEM便能够独立地自动完成高村度图像采集。
使用成熟的ZEN 成像软件控制 MultiSEM:您可以直观灵活地管理这款高性能扫描电子显微镜的所有功能选项。
以极高速度和纳米分辨率采集图像
91条电子束同时工作,拥有出色的成像速度。
在几分钟内对1mm2的区域成像,分辨率高达4nm,
借助经优化的二次电子探测器,以低信噪比采集高村度图像。
大型样品的采集和成像
MultiSEM 配备有一个可容纳10cmx10cm大小样品的样品夹。
对整个样品成像并发现所有细节,助力于科研。
自动采集方案可实大面积成像-您将获得精细的纳米图像,且不丢失可见信息。
ZEN 成像软件
使用成熟的ZEN软件简便直观地操控MultiSEM,该软件被应用于所有禁司成像系统
智能化自动调节程序能够帮助您以高分辨率和高村度捕获图像
根据样品的实际情况,快速轻松地创建复杂的自动采集流程
MultiSEM的ZEN 软件可高速进行连续并行成像
开放的API软件接口可提供灵活快速的应用开发
对大体积样品连续切片断层扫描的数据获取
使用ATUMtome 自动切割树脂包埋生物组织,内搜焦多达1000个连续切片。
将切片用胶带固定在硅晶片上并用禁司的光学显微镜成像。使用禁司的ZEN成像软件以及 Shuttle&Find功能组件对整体成像。再将硅晶片移
MultiSEM电子显微镜下,对样品进行整体预览并利用ZEN软件用户界面规划整个实验。
用图形化的控制中心设置整个实验
切片检测可以识别和标注感兴趣区域,节首大量时间。